Knihy od autora David C. Joy

Zobrazeno 1 – 12 z 12 výsledků

1. 

   Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

   Joseph Goldstein, Dale E. Newbury, David C. Joy, Joseph R. Michael, Nicholas W. M. Ritchie, John Henry J. Scott | Springer-Verlag New York Inc., 2017

   
   

   Skladem u dodavatele - Odesíláme za 11-13 dnů

   Jazyk: Angličtina

   Vazba: Pevná

   3234 Kč

   Koupit
2. 

   Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

   Dale E. Newbury, David C. Joy | Springer Science+Business Media, 2002

   
   

   U nakladatele na objednávku - Odesíláme za 3-5 dnů

   Jazyk: Angličtina

   Vazba: Pevná

   3095 Kč

   Koupit
3. 

   Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

   Joseph Goldstein, Dale E. Newbury, Patrick Echlin, David C. Joy | Springer-Verlag New York Inc., 2013

   
   

   Skladem u dodavatele v malém množství - Odesíláme za 12-15 dnů

   Jazyk: Angličtina

   Vazba: Brožovaná

   3313 Kč

   Koupit
4. 

   Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

   Joseph I. Goldstein, Dale E. Newbury, Joseph R. Michael, Nicholas W.M. Ritchie, John Henry J. Scott, David C. Joy | Springer-Verlag New York Inc., 2018

   
   

   Skladem u dodavatele - Odesíláme za 8-10 dnů

   Jazyk: Angličtina

   Vazba: Brožovaná

   2942 Kč

   Koupit
5. 

   Principles of Analytical Electron Microscopy

   Joseph Goldstein, David C. Joy, Alton D. Romig Jr. | Springer Science+Business Media

   
   

   Skladem u dodavatele v malém množství - Odesíláme za 12-15 dnů

   Jazyk: Angličtina

   Vazba: Pevná

   5094 Kč

   Koupit
6. 

   Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

   Joseph Goldstein, Dale E. Newbury, David C. Joy, Charles E. Lyman | Springer-Verlag New York Inc., 2013

   
   

   Skladem u dodavatele v malém množství - Odesíláme za 12-15 dnů

   Jazyk: Angličtina

   Vazba: Brožovaná

   3611 Kč

   Koupit
7. 

   Introduction to Electron Holography

   Lawrence F. Allard, David C. Joy, Edgar Völkl | Springer-Verlag New York Inc., 2012

   
   

   Skladem u dodavatele v malém množství - Odesíláme za 12-15 dnů

   Jazyk: Angličtina

   Vazba: Brožovaná

   3313 Kč

   Koupit
8. 

   Helium Ion Microscopy

   David C. Joy | Springer-Verlag New York Inc., 2013

   
   

   Skladem u dodavatele v malém množství - Odesíláme za 12-15 dnů

   Jazyk: Angličtina

   Vazba: Brožovaná

   1681 Kč

   Koupit
9. 

   Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

   Patrick Echlin, C.E. Fiori, Joseph Goldstein, David C. Joy | Springer-Verlag New York Inc., 2013

   
   

   Skladem u dodavatele v malém množství - Odesíláme za 12-15 dnů

   Jazyk: Angličtina

   Vazba: Brožovaná

   3313 Kč

   Koupit
10. 

    Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

    Joseph Goldstein, Dale E. Newbury, Patrick Echlin, David C. Joy | Springer, Berlin, 2011

    
    

    Skladem u dodavatele v malém množství - Odesíláme za 12-15 dnů

    Jazyk: Angličtina

    Vazba: Brožovaná

    3313 Kč

    Koupit
11. 

    Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

    Patrick Echlin, C.E. Fiori, Joseph Goldstein, David C. Joy | Springer Science+Business Media

    
    

    50 % šance - Prohledáme celý svět

    Jazyk: Angličtina

    Vazba: Pevná

    4765 Kč

    Koupit
12. 

    Principles of Analytical Electron Microscopy

    Joseph Goldstein, David C. Joy, Alton D. Romig Jr. | Springer-Verlag New York Inc., 2013

    
    

    Skladem u dodavatele v malém množství - Odesíláme za 12-15 dnů

    Jazyk: Angličtina

    Vazba: Brožovaná

    5065 Kč

    Koupit

Knihy vám rádi za malý poplatek dárkově zabalíme. Zjistěte více