Knihy od autora David C. Joy

Zobrazeno 1 – 13 z 13 výsledků

1. 

   Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

   Joseph Goldstein, Dale E. Newbury, David C. Joy, Joseph R. Michael, Nicholas W. M. Ritchie, John Henry J. Scott | Springer-Verlag New York Inc., 2017

   
   

   Skladem u dodavatele - Odesíláme za 10-13 dnů

   Jazyk: Angličtina

   Vazba: Pevná

   2533 Kč

   Koupit
2. 

   Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

   Dale E. Newbury, David C. Joy | Springer Science+Business Media, 2002

   
   

   U nakladatele na objednávku - Odesíláme za 17-27 dnů

   Jazyk: Angličtina

   Vazba: Pevná

   3048 Kč

   Koupit
3. 

   Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

   Joseph I. Goldstein, Dale E. Newbury, Joseph R. Michael, Nicholas W.M. Ritchie, John Henry J. Scott, David C. Joy | Springer-Verlag New York Inc., 2018

   
   

   Skladem u dodavatele - Odesíláme za 8-11 dnů

   Jazyk: Angličtina

   Vazba: Brožovaná

   2303 Kč

   Koupit
4. 

   Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

   Joseph Goldstein, Dale E. Newbury, Patrick Echlin, David C. Joy | Springer-Verlag New York Inc., 2013

   
   

   Skladem u dodavatele - Odesíláme za 5-8 dnů

   Jazyk: Angličtina

   Vazba: Brožovaná

   2357 Kč

   Koupit
5. 

   Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

   Joseph Goldstein, Dale E. Newbury, David C. Joy, Charles E. Lyman | Springer-Verlag New York Inc., 2013

   
   

   Skladem u dodavatele - Odesíláme za 10-18 dnů

   Jazyk: Angličtina

   Vazba: Brožovaná

   2196 Kč

   Koupit
6. 

   Helium Ion Microscopy

   David C. Joy | Springer-Verlag New York Inc., 2013

   
   

   Skladem u dodavatele - Odesíláme za 8-11 dnů

   Jazyk: Angličtina

   Vazba: Brožovaná

   1182 Kč

   Koupit
7. 

   Principles of Analytical Electron Microscopy

   Joseph Goldstein, David C. Joy, Alton D. Romig Jr. | Springer-Verlag New York Inc., 2013

   
   

   Skladem u dodavatele - Odesíláme za 5-8 dnů

   Jazyk: Angličtina

   Vazba: Brožovaná

   3532 Kč

   Koupit
8. 

   Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

   Joseph Goldstein, Dale E. Newbury, Patrick Echlin, David C. Joy | Springer, Berlin, 2011

   
   

   Skladem u dodavatele - Odesíláme za 5-8 dnů

   Jazyk: Angličtina

   Vazba: Brožovaná

   2357 Kč

   Koupit
9. 

   Introduction to Electron Holography

   Lawrence F. Allard, David C. Joy, Edgar Völkl | Springer-Verlag New York Inc., 2012

   
   

   Skladem u dodavatele - Odesíláme za 5-8 dnů

   Jazyk: Angličtina

   Vazba: Brožovaná

   2357 Kč

   Koupit
10. 

    Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

    Patrick Echlin, C.E. Fiori, Joseph Goldstein, David C. Joy | Springer-Verlag New York Inc., 2013

    
    

    Skladem u dodavatele - Odesíláme za 5-8 dnů

    Jazyk: Angličtina

    Vazba: Brožovaná

    2357 Kč

    Koupit
11. 

    Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

    Patrick Echlin, C.E. Fiori, Joseph Goldstein, David C. Joy | Springer Science+Business Media

    
    

    50 % šance - Prohledáme celý svět

    Jazyk: Angličtina

    Vazba: Pevná

    4649 Kč

    Koupit
12. 

    Principles of Analytical Electron Microscopy

    Joseph Goldstein, David C. Joy, Alton D. Romig Jr. | Springer Nature B.V., 2013

    
    

    Skladem u dodavatele - Odesíláme za 10-18 dnů

    Jazyk: Angličtina

    Vazba: Brožovaná

    1309 Kč

    Koupit
13. 

    Principles of Analytical Electron Microscopy

    Joseph Goldstein, David C. Joy, Alton D. Romig Jr. | Springer Science+Business Media

    
    

    Skladem u dodavatele - Odesíláme za 10-13 dnů

    Jazyk: Angličtina

    Vazba: Pevná

    3532 Kč

    Koupit

Zboží můžete bez udání důvodů do měsíce vrátit. Zjistěte více